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芯片老化测试箱 BURN-IN OVEN 详细摘要： 芯片老化测试箱用于对封装好的电路进行可靠性测试（ReliabilityTest），它的主要目的是为了检出早期失效的器件，称为InfantMortality
产品型号： 所在地： 更新时间：2021-08-27 参考价： 面议 在线留言
| 苏州诺威特测控科技有限公司 |
详细摘要： 芯片老化测试箱用于对封装好的电路进行可靠性测试（ReliabilityTest），它的主要目的是为了检出早期失效的器件，称为InfantMortality
产品型号： 所在地： 更新时间：2021-08-27 参考价： 面议 在线留言